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檢測(cè)儀器設(shè)備 皓天三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱適用的對(duì)象包括金屬、汽車電子、橡膠、電工電子、IC芯片、LED照明、軍工、航空航天等材料檢測(cè)分析的重要儀器設(shè)備，測(cè)試結(jié)果可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的重要依據(jù)或參考。
產(chǎn)品型號(hào)：TSD-150F-3P- 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間：2024-10-18
- 訪 問 量：159
| 品牌 | 廣皓天 | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,交通,航天,電氣 |
| 高溫區(qū) | +60℃～200℃ | 低溫區(qū) | -10℃～-60℃ |
| 溫度波動(dòng)度 | ±0.5℃ | 溫度均勻度 | ±3℃ |
| 溫度恢復(fù)時(shí)間 | 3～5 分鐘 | 高溫槽升溫速度 | 平均約 5℃/min |
| 低溫槽降溫速度 | 平均約 1.5℃/min | 高低溫暴露時(shí)間 | 30min 以上 |
| 高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間 | ≤10秒 | 樣品容積 | 36L |
| 工作室尺寸 | 600×500×500mm（寬 × 高 × 深） | 外形尺寸 | 約 1880×1850×2120mm |
| 電源 | 380V/50Hz | 重量 | 約 560kg |
檢測(cè)儀器設(shè)備 皓天三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱
產(chǎn)品用途：
冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用來測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用的對(duì)象包括金屬、汽車電子、橡膠、電工電子、IC芯片、LED照明、軍工、航空航天等材料檢測(cè)分析的重要儀器設(shè)備，測(cè)試結(jié)果可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的重要依據(jù)或參考。
技術(shù)參數(shù)：
測(cè)試室溫度范圍:-40℃~+150℃(風(fēng)冷式)
低溫沖擊范圍:-10℃~-40℃(任意可調(diào))
高溫沖擊范圍:60℃~150℃(任意可調(diào))
檢測(cè)儀器設(shè)備 皓天三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱
滿足標(biāo)準(zhǔn)
?GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
?GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
?GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
?GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
?GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化
?GJB150.3-86 J用設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 高溫沖擊試驗(yàn)
?GJB150.4-86 J用設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 低溫沖擊試驗(yàn)
?GJB150.5-86 J用設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)
?GJB360.7-87 電子機(jī)電氣元件試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)
選購注意事項(xiàng)
溫度范圍:根據(jù)測(cè)試需求選擇合適的溫度范圍，
溫度變化速率:考慮測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品要求，選擇合適的溫度變化速率。
樣品容量與尺寸:確保試驗(yàn)箱能夠容納并適應(yīng)待測(cè)試樣品的尺寸和數(shù)量
自動(dòng)化程度:根據(jù)實(shí)驗(yàn)室的自動(dòng)化水平和操作需求，選擇適合的自動(dòng)化程度。
售后服務(wù):選擇有良好售后服務(wù)和技術(shù)支持的供應(yīng)商，以確保設(shè)備的長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行。
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