詳情介紹
| 品牌 | 廣皓天 | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬(wàn)-10萬(wàn) |
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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,交通,航天,電氣 |
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| 高溫區(qū) | +60℃～200℃ | 低溫區(qū) | -10℃～-60℃ |
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| 溫度波動(dòng)度 | ±0.5℃ | 溫度均勻度 | ±3℃ |
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| 溫度恢復(fù)時(shí)間 | 3～5 分鐘 | 高溫槽升溫速度 | 平均約 5℃/min |
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| 低溫槽降溫速度 | 平均約 1.5℃/min | 高低溫暴露時(shí)間 | 30min 以上 |
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| 高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間 | ≤10秒 | 樣品容積 | 36L |
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| 工作室尺寸 | 600×500×500mm（寬 × 高 × 深） | 外形尺寸 | 約 1880×1850×2120mm |
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| 電源 | 380V/50Hz | 重量 | 約 560kg |
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廠(chǎng)家供應(yīng)三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 使用方便
廣皓天廠(chǎng)家供應(yīng)的三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱具有至關(guān)重要的作用。
首先，該設(shè)備能夠模擬不同惡劣的溫度變化環(huán)境，使產(chǎn)品在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)歷從高溫到低溫或從低溫到高溫的劇烈轉(zhuǎn)變。這對(duì)于檢測(cè)產(chǎn)品在不同溫度條件下的性能穩(wěn)定性和可靠性至關(guān)重要。例如，在電子、汽車(chē)、航空航天等行業(yè)，產(chǎn)品可能會(huì)面臨各種惡劣 的溫度環(huán)境，通過(guò)冷熱沖擊試驗(yàn)可以提前發(fā)現(xiàn)潛在的質(zhì)量問(wèn)題，確保產(chǎn)品在實(shí)際使用中的安全性和可靠性。
其次，三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱使用方便，大大提高了測(cè)試效率。其獨(dú)立的高溫區(qū)、低溫區(qū)和測(cè)試區(qū)設(shè)計(jì)，使得測(cè)試過(guò)程更加高效、精準(zhǔn)。操作人員可以輕松設(shè)置測(cè)試參數(shù)，實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試過(guò)程，快速獲取測(cè)試結(jié)果。這對(duì)于企業(yè)來(lái)說(shuō)，可以縮短產(chǎn)品研發(fā)周期，降低生產(chǎn)成本，提高市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。
此外，該設(shè)備還具有高精度的溫度控制和快速的溫度轉(zhuǎn)換能力，能夠滿(mǎn)足不同產(chǎn)品的測(cè)試需求。無(wú)論是小型電子元件還是大型機(jī)械設(shè)備，都可以在三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱中進(jìn)行有效的測(cè)試。
一、主要功能及特點(diǎn)：
功能：能夠快速實(shí)現(xiàn)高溫、低溫之間的切換，模擬芯片在實(shí)際使用中可能面臨的惡劣的溫度變化環(huán)境，對(duì)芯片的性能、可靠性進(jìn)行嚴(yán)格測(cè)試。
特點(diǎn)：
三箱獨(dú)立結(jié)構(gòu)，高溫、低溫和測(cè)試區(qū)互不干擾，確保溫度轉(zhuǎn)換快速、準(zhǔn)確。
精準(zhǔn)的溫度控制，溫度波動(dòng)小，能夠滿(mǎn)足不同產(chǎn)品的測(cè)試要求。
快速溫度切換功能，可在短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)從高溫到低溫或從低溫到高溫的轉(zhuǎn)變，模擬真實(shí)的熱脹冷縮環(huán)境。
智能化控制系統(tǒng)，操作簡(jiǎn)便，可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和記錄測(cè)試數(shù)據(jù)。
良好的密封性和隔熱性能，減少能量損失，提高測(cè)試效率
二、TSD-150F-3P 參數(shù)：溫度范圍：高溫區(qū) +60℃～+150℃，低溫區(qū) -10℃～-65℃。
溫度波動(dòng)度：高溫區(qū) ±0.5℃，低溫區(qū) ±1.0℃。
溫度均勻度：高溫區(qū) ±2.0℃，低溫區(qū) ±2.0℃。
升溫速率：從常溫升溫至 +150℃約 30 分鐘。
降溫速率：從常溫降溫至 -65℃約 60 分鐘。
工作室尺寸：寬 × 高 × 深為 600mm×500mm×500mm。
三、具備測(cè)試條件：該試驗(yàn)箱具備精準(zhǔn)的溫度控制能力，能夠在高溫與低溫之間快速切換，模擬各種不同的溫度變化情況。無(wú)論是三箱式還是二箱式，都擁有寬敞的測(cè)試空間，可滿(mǎn)足不同尺寸產(chǎn)品的測(cè)試需求。同時(shí)，配備高性能的監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，實(shí)時(shí)記錄測(cè)試過(guò)程中的溫度、時(shí)間等參數(shù)，為測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性提供保障。
四、滿(mǎn)足以下標(biāo)準(zhǔn)：
一、國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)
IEC 60068-2-14：環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N：溫度變化。
MIL-STD-810F：美國(guó)J用標(biāo)準(zhǔn)，環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)方法。
二、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.1-2008：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A：低溫。
GB/T 2423.2-2008：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B：高溫。
GB/T 2423.22-2012：環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N：溫度變化。
廠(chǎng)家供應(yīng)三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 使用方便
廠(chǎng)家供應(yīng)的三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱以其使用方便、高效精準(zhǔn)的特性，在產(chǎn)品測(cè)試中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。它為企業(yè)提供了可靠的質(zhì)量保障，助力企業(yè)在激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中脫穎而出。選擇這款試驗(yàn)箱，就是為產(chǎn)品的出色品質(zhì)和企業(yè)的長(zhǎng)遠(yuǎn)發(fā)展奠定堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。讓我們共同借助這一高性能的測(cè)試設(shè)備，開(kāi)創(chuàng)更加美好的未來(lái)。
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產(chǎn)品型號(hào)：TSD-150F-3P
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